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恒温晶体振荡器简称恒温晶振,英文简称为OCXO(Oven Controlled Crystal Oscillator)。详解恒温晶振的调试:
1)每一个单独指标必须单独测试,不能同时测试几种指标,也不能同时测试几只晶振。
2)测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试。
3)在没有相当的测试设备和测试人员的情况下,不建议客户自行测试晶振,更不能随意调试晶振,测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。
4)对不同厂家的产品,尤其是来自不同国家的产品,有一些指标的测试方法不尽相同,应提前了解各厂家的异同点,统一意见,以减少不必要的麻烦。
5)对一些短期指标如频率精度,开机特性等,应多做几次重复的测试,以减少测试结果的偶然性。
晶振有几个重要参数:
1.晶体元件规格书中所的频率,也是在电路设计和元件选购时首要关注的参数。晶振常用标称频率在1~200MHz之间,比如32768Hz、8MHz、12MHz、24MHz、125MHz等,更高的输出频率也常用PLL(锁相环)将低频进行倍频至1GHz以上。我们称之为标称频率。
2.输出信号的频率不可避免会有一定的偏差,我们用频率误差(Frequency Tolerance)或频率稳定度(Frequency Stability),用单位ppm来表示,即百万分(parts per million)(1/106),是相对标称频率的变化量,此值越小表示精度越高。比如,12MHz晶振偏差为±20ppm,表示它的频率偏差为12×20Hz=±240Hz,即频率范围是(11999760~12000240Hz)
3.还有一个温度频差(Frequency Stability vs Temp)表示在特定温度范围内,工作频率相对于基准温度时工作频率的允许偏离,它的单位也是ppm。
4.另外,负载电容CL(Load capacitance),它是电路中跨接晶体两端的总的有效电容(不是晶振外接的匹配电容),主要影响负载谐振频率和等效负载谐振电阻,与晶体一起决定振荡器电路的工作频率,通过调整负载电容,就可以将振荡器的工作频率微调到标称值。更准确而言,无源晶体的负载电容是一项非常重要的参数,因为无源晶体属于被动元器件,所谓的被动元器件即是自身不能工作,需要外部元器件协助工作。
普通晶振由石英晶片,支架,导电胶,引脚构成。晶振的内部是水晶,两面镀有金属电极,一般为银或金。它的外壳一般采用合金铜或铁,表面贴装的还含有陶瓷。这些材料对人体没有什么危害,所以大可放心。如果用在电子产品中是有一点辐射的危害的,但是危害也及其较小。因为当晶振在工作的过程中会释放频率,输出信号。大部分晶体都使用环保的材料,对人体危害是较小的。
随着现在电子行业的发展,晶振也开始越来越小型化,以适应市场的发展。那么晶振的种类如何来划分呢?
首先要先了解晶振是什么?
简单一点说,晶振就是以晶片作为核心,外壳则由金属或者陶瓷,玻璃壳,塑料封装。
晶振从材质上划分:可以分为石英晶振和陶瓷晶振,从属性来划分:可以分为无源晶振和有源晶振。
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